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dc.creatorSallese, Marcelo
dc.creatorTorga, Jorge
dc.creatorTabla, Pablo
dc.creatorMorel, Eneas
dc.date.accessioned2020-02-10T20:59:30Z
dc.date.available2020-02-10T20:59:30Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citation"Topografía de superficies obtenida por interferometría de baja coherencia de alta resolución espacial" - Marcelo Sallese, Pablo Tabla, Eneas Morel y Jorge Torga - Laboratorio de Optoelectrónica y Metrología Aplicada, Facultad Regional Delta, Universidad - Tecnológica Nacional- lll CADI – IX CAEDI- 2016es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12272/4281
dc.description.abstractLa tomografía óptica coherente (OCT por sus siglas en inglés) es una técnica óptica no destructiva, que utiliza una fuente de luz de gran ancho espectral que se enfoca sobre un punto de la muestra para determinar la distancia (rigurosamente la diferencia de camino óptico)entre este punto y una superficie de referencia. El punto puede ser superficial o en una interfase interior de la muestra (transparente o semitransparente), permitiendo realizar topografías y/o tomografías en distintos materiales. El interferómetro de Michelson es el esquema experimental tradicional para esta técnica, en el cual un haz de luz se divide en dos ramas, una de referencia y la otra de muestra. La superposición de la luz reflejada en la muestra y en la referencia genera una señal de interferencia que nos da información de la diferencia de camino óptico entre ramas. A partir de esta información es posible obtener la distancia mencionada. En este trabajo se presenta una nueva configuración experimental en donde la señal de referencia y la señal reflejada en la muestra viajan por una misma rama, mejorando la calidad de la señal de interferencia. Entre los aspectos más importante de esta mejora podemos mencionar que se reduce considerablemente el ruido y los errores producidos por el movimiento relativo referencia-muestra y por la dispersión del índice de refracción. De esta manera es posible obtener imágenes 3D de superficies con una resolución espacial en el orden del micrón. Se presentan resultados obtenidos en topografía de superficies metálicas, vidrios y tintas impresas sobre papel.es_ES
dc.formatapplication/pdfes_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_ES
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/*
dc.subjectinterferometríaes_ES
dc.subjecttopografíaes_ES
dc.subjecttomografíaes_ES
dc.titleTopografía de superficies obtenida por interferometría de baja coherencia de alta resolución espaciales_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes_ES
dc.rights.holderSallese, Marceloes_ES
dc.description.affiliationFil: Sallese Marcelo. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina.es_ES
dc.description.affiliationFil: Torga, Jorge. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina.es_ES
dc.description.affiliationFil: Tabla, Pablo. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina.es_ES
dc.description.affiliationFil: Morel, Eneas. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina.es_ES
dc.type.versionpublisherVersiones_ES
dc.rights.useAtribución - No Comercial - Compartir Igual (by-nc-sa)es_ES
dc.rights.useAtribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional*


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