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Desempeño del método de análisis transitorio en la detección de fallas paramétricas en circuitos integrados.
(2016-04-01)
En este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Metodología de
Análisis de Respuesta Transitoria (TRAM1
) para discriminar entre circuitos dentro y fuera de
especificaciones. Con este propósito ...
Desarrollo de un circuito integrado transmisor RFID pasivo
(2017-04-01)
En la presente publicación se describe el diseño de un circuito integrado (CI) compuesto por los módulos de rectificación, regulación de tensión y modulación de carga de un transceptor RFID (13,56 MHz), además del diseño ...
Diseño de un amplificador operacional didáctico programable en un proceso CMOS de 500 nm
(2016-10-01)
En este trabajo se describe el diseño de un Amplificador Operacional en un proceso CMOS
comercial de 500 nm, con la particularidad de que la corriente suministrada en las etapas de
ganancia puede ser seleccionada por ...
Diseño, síntesis, fabricación y prueba de unHasher SHA-256 en tecnología CMOS de 180 nm
(2015-10-01)
Este reporte surge de un proyecto de cooperación con ingenieros y científicos del departa-
mento de Computer Engineering de la Universidad de Utah, Estados Unidos y el Laboratorio
de Microelectrónica de la Facultad ...
Evaluación de la calidad de TRAM en la detección de fallas de fabricación en circuitos integrados analógicos fabricados en tecnología CMOS de 500nm
(2015-04-01)
En este trabajo se presenta la evaluación de la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis Transitorio (TRAM, Transient Analysis Method) para la detección de fallas paramétricas en los componentes ...