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    AuthorAguirre, Fernando Leonel (1)SubjectCircuitos neuromórficos (1)Conmutación Resistiva (1)
    Doctorado en Ingeniería (1)
    Envejecimiento (1)Fiabilidad (1)High-K (1)Irradiación (1)MOS (1)Procesamiento de Señales e Imágenes (1)Reconocimiento de Patrones (1)... View MoreDate Issued
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    Degradación de estructuras MOS (metal-óxido-semiconductor) y sus aplicaciones. 

    Aguirre, Fernando Leonel (Escuela de Posgrado - UTN FRBA, 2021-08-30)
    Históricamente la mejora de rendimiento de los circuitos microelectrónicos ha ido asociada a un aumento en la cantidad de transistores por unidad de área. Esto ha sido posible debido a una reducción sostenida en el tamaño ...

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