ListarGrupo de Nanofotonica por tema "Caracterización de materiales"
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Desarrollo de un equipo basado en un interferómetro de baja coherencia para medición de topografía y tomografía de materiales
(2017)Este trabajo presenta los resultados de un proyecto del desarrollo de un equipo para realizar topografías y tomografías de materiales basado en una técnica óptica aplicado como ensayo no destructivo para la caracterización ...