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Diseño y construcción de un módulo de microscopía de barrido por sondeo local y de un sistema de nanoposicionamiento de alta precisión para un microscopio multianálisis

dc.creatorMartínez Reina, Hernán
dc.creatorPujol, Miguel A.
dc.creatorMorel, Eneas Nicolás
dc.creatorScarpettini, Alberto
dc.creatorTorga, Jorge Román
dc.date.accessioned2020-09-18T17:52:57Z
dc.date.available2020-09-18T17:52:57Z
dc.date.issued2014
dc.identifier.citationDiseño y construcción de un módulo de microscopía de barrido por sondeo local y de un sistema de nanoposicionamiento de alta precisión para un microscopio multianálisis - HERNÁN A. MARTÍNEZ REINA; IGNACIO G. CARDOZO; MIGUEL A. PUJOL; ENEAS N. MOREL; ALBERTO F. SCARPETTINI; J R TORGA – Tucumán - Congreso; II Congreso Argentino de Ingeniería - CADI 2014, VIII Congreso Argentino de Enseñanza de la Ingeniería - CAEDI 2014; 2014-Consejo Federal de Decanos de Ingenieríaes_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12272/4550
dc.description.abstractEste trabajo presenta la técncia de interferometrá de baja coherencia orientada a la obtención de topografiá de superficies y tomografía de materiales. Se decribe la idea general, se presentan distintos esquemas experimentales y se muestran resultados obtenidos en distintos tipos de aplicaciones. Se pretende mostrar que esta técnica, todavía en etapa de laboratorio, puede ser en muchos casos una alternativa a las técncias convencionales o una solución a problemas por resolver, en el área de los ensayos no detructivos en materiales.es_ES
dc.formatapplication/pdfes_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_ES
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/*
dc.rights.uriAtribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional*
dc.subjectUTNes_ES
dc.subjectFacultad Regional Deltaes_ES
dc.subjectinterferometráes_ES
dc.subjecttopografía de superficieses_ES
dc.subjecttomografía de materialeses_ES
dc.titleDiseño y construcción de un módulo de microscopía de barrido por sondeo local y de un sistema de nanoposicionamiento de alta precisión para un microscopio multianálisises_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes_ES
dc.rights.holderScarpettini, Albertoes_ES
dc.description.affiliationFil: Pujol, Miguel A. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo de Nanofotonica; Argentina.es_ES
dc.description.affiliationFil: Morel, Eneas Nicolás. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo de Nanofotonica; Argentina.es_ES
dc.description.affiliationFil: Scarpettini, Alberto. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo de Nanofotonica; Argentina.es_ES
dc.description.affiliationFil: Torga, Jorge Román. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo de Nanofotonica; Argentina.es_ES
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/acceptedVersiones_ES
dc.rights.useAtribución – No Comercial – Compartir Igual (by-nc-sa)es_ES


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