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Desempeño del método de análisis transitorio en la detección de fallas paramétricas en circuitos integrados.
(2016-04-01)
En este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Metodología de
Análisis de Respuesta Transitoria (TRAM1
) para discriminar entre circuitos dentro y fuera de
especificaciones. Con este propósito ...
Evaluación de la calidad de TRAM en la detección de fallas de fabricación en circuitos integrados analógicos fabricados en tecnología CMOS de 500nm
(2015-04-01)
En este trabajo se presenta la evaluación de la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis Transitorio (TRAM, Transient Analysis Method) para la detección de fallas paramétricas en los componentes ...