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Mostrando ítems 1-2 de 2
Diseño, síntesis, fabricación y prueba de unHasher SHA-256 en tecnología CMOS de 180 nm
(2015-10-01)
Este reporte surge de un proyecto de cooperación con ingenieros y científicos del departa-
mento de Computer Engineering de la Universidad de Utah, Estados Unidos y el Laboratorio
de Microelectrónica de la Facultad ...
Evaluación de la calidad de TRAM en la detección de fallas de fabricación en circuitos integrados analógicos fabricados en tecnología CMOS de 500nm
(2015-04-01)
En este trabajo se presenta la evaluación de la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis Transitorio (TRAM, Transient Analysis Method) para la detección de fallas paramétricas en los componentes ...