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Mostrando ítems 1-2 de 2
Desafíos de Confiabilidad en dispositivos MetalÓxido- Semiconductor y circuitos integrados de radiofrecuencia.
(Escuela de Posgrado - Facultad Regional Buenos Aires, 2021-03-09)
El paradigma de la miniaturización se ha encontrado con limitaciones, tanto económicas como tecnológicas, que atentan contra la mejora sostenida del rendimiento de los circuitos electrónicos. Garantizar la confiabilidad ...
Implementación de un sensor de temperatura del tipo oscilador en anillo en CMOS y FPGA : caracterización, simulación y medición
(2021-04-01)
En este trabajo se modelizó y simuló un circuito con topología oscilador en anillo
en tecnología CMOS (siglas en inglés de un par de transistores Metal-Óxido-
Semiconductor Complementarios) para luego pasar a una ...