ListarFRBA - Revista Proyecciones - Vol. 13 Nro. 1 por tema "analog ic testing"
Mostrando ítems 1-1 de 1
-
Evaluación de la calidad de TRAM en la detección de fallas de fabricación en circuitos integrados analógicos fabricados en tecnología CMOS de 500nm
(2015-04-01)En este trabajo se presenta la evaluación de la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis Transitorio (TRAM, Transient Analysis Method) para la detección de fallas paramétricas en los componentes ...