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Desafíos de Confiabilidad en dispositivos MetalÓxido- Semiconductor y circuitos integrados de radiofrecuencia.
(Escuela de Posgrado - Facultad Regional Buenos Aires, 2021-03-09)
El paradigma de la miniaturización se ha encontrado con limitaciones, tanto económicas como tecnológicas, que atentan contra la mejora sostenida del rendimiento de los circuitos electrónicos. Garantizar la confiabilidad ...
Degradación de estructuras MOS (metal-óxido-semiconductor) y sus aplicaciones.
(Escuela de Posgrado - UTN FRBA, 2021-08-30)
Históricamente la mejora de rendimiento de los circuitos microelectrónicos ha ido asociada a un aumento en la cantidad de transistores por unidad de área. Esto ha sido posible debido a una reducción sostenida en el tamaño ...