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dc.creatorAguirre, Fernando
dc.creatorPazos, Sebastián
dc.creatorRomero, Eduardo
dc.creatorPeretti, Gabriela
dc.creatorVerrastro, Sebastián
dc.date.accessioned2021-09-24T20:04:20Z
dc.date.available2021-09-24T20:04:20Z
dc.date.issued2016-04-01
dc.identifier.citationProyecciones, Vol. 14 No. 1es_ES
dc.identifier.issn1853-6352
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12272/5473
dc.description.abstractEn este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Metodología de Análisis de Respuesta Transitoria (TRAM1 ) para discriminar entre circuitos dentro y fuera de especificaciones. Con este propósito se adopta una vista a nivel comportamiento, definiendo una falla como un incumplimiento de alguna de las especificaciones. Si bien esta estrategia de test ha sido estudiada por varios autores, este trabajo se enfoca en la utilización de modelos de simulación más precisos que evitan hacer suposiciones de comportamientos ideales. Para las evaluaciones se ha adoptado un filtro de segundo orden en la topología de variables de es- tados, el cual ha sido diseñado totalmente a medida (full custom) en una tecnología comercial CMOS de 500 nm. Se adopta una metodología de evaluación que inyecta desviaciones alea- torias en los parámetros circuitales como un medio para generar una población de circuitos con diferentes proporciones de buenos y malos. Esta población se expone posteriormente al test para evaluar su eficiencia.es_ES
dc.description.abstractThis paper evaluates the capacity of the test strategy named Transient Response Analysis Method (TRAM) to detect manufactured circuits that fall inside or outside its specifications. With this purpose, a behavioral level approach is adopted, defining a fault as the inability to comply with any of the specifications. Although this strategy has been addressed by other authors, this article focuses on the implementation of more precise simulation models to avoid the assumption of ideal components. A state variable, second order filter was implemented in a 500 nm CMOS technology following a full-custom flow, and adopted as circuit under test. To perform the evaluation, random deviations are injected to the circuit parameters, in order to create populations with different amounts of faulty and non faulty circuits. The test strategy is applied to these populations in order to evaluate its efficiency.es_ES
dc.formatapplication/pdfes_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_ES
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/*
dc.rights.uriAtribución-NoComercial 4.0 Internacional*
dc.sourceProyecciones 14 (1), 65-75. (2016)es_ES
dc.subjectcircuitos integrados analógicoses_ES
dc.subjectdetección de fallases_ES
dc.subjecttrames_ES
dc.subjectrespuesta transitoriaes_ES
dc.subjectcmoses_ES
dc.subjectanalog integrated circuitses_ES
dc.subjectfault detectiones_ES
dc.subjecttransient responsees_ES
dc.titleDesempeño del método de análisis transitorio en la detección de fallas paramétricas en circuitos integrados.es_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articlees_ES
dc.rights.holderFernando Aguirre, Sebastián Pazos, Eduardo Romero, Gabriela Peretti, Sebastián Verrastroes_ES
dc.description.affiliationFil: Aguirre, Fernando. Universidad Tecnológica Nacional, Facultad Regional Buenos Aires, Departamento de Ingeniería Electrónica; Argentina.es_ES
dc.description.affiliationFil: Pazos, Sebastián. Universidad Tecnológica Nacional, Facultad Regional Buenos Aires, Departamento de Ingeniería Electrónica; Argentina.es_ES
dc.description.affiliationFil: Romero, Eduardo. Universidad Tecnológica Nacional, Facultad Regional Villa María; Argentina.es_ES
dc.description.affiliationFil: Verrastro, Sebastián. Universidad Tecnológica Nacional, Facultad Regional Buenos Aires, Departamento de Ingeniería Electrónica; Argentina.es_ES
dc.description.peerreviewedPeer Reviewedes_ES
dc.type.versionpublisherVersiones_ES
dc.rights.useLicencia. Creative Commons Atribución- No Comercial.es_ES


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