Listar Facultad Regional Buenos Aires por autor "Palumbo, Félix Roberto Mario"
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Degradación de estructuras MOS (metal-óxido-semiconductor) y sus aplicaciones.
Aguirre, Fernando Leonel (Escuela de Posgrado - UTN FRBA, 2021-08-30)Históricamente la mejora de rendimiento de los circuitos microelectrónicos ha ido asociada a un aumento en la cantidad de transistores por unidad de área. Esto ha sido posible debido a una reducción sostenida en el tamaño ... -
Desafíos de Confiabilidad en dispositivos MetalÓxido- Semiconductor y circuitos integrados de radiofrecuencia.
Pazos, Sebastián Matias (Escuela de Posgrado - Facultad Regional Buenos Aires, 2021-03-09)El paradigma de la miniaturización se ha encontrado con limitaciones, tanto económicas como tecnológicas, que atentan contra la mejora sostenida del rendimiento de los circuitos electrónicos. Garantizar la confiabilidad ...