En este trabajo se presenta un método para procesar imágenes para optimizar la calibra ción de microscopios ópticos Lext Olympus con plantillas. El algoritmo pro-puesto ya fun ciona en las escalas de los autocolimadores Nikon, que son similares a las presentes en las plantillas de calibración de estos microscopios. El algoritmo fue adaptado para medir estas
plantillas y así optimizar la calibración.
