Diseño y construcción de un módulo de microscopía de barrido por sondeo local y de un sistema de nanoposicionamiento de alta precisión para un microscopio multianálisis

Abstract

Este trabajo presenta la técncia de interferometrá de baja coherencia orientada a la obtención de topografiá de superficies y tomografía de materiales. Se decribe la idea general, se presentan distintos esquemas experimentales y se muestran resultados obtenidos en distintos tipos de aplicaciones. Se pretende mostrar que esta técnica, todavía en etapa de laboratorio, puede ser en muchos casos una alternativa a las técncias convencionales o una solución a problemas por resolver, en el área de los ensayos no detructivos en materiales.