Diseño y construcción de un módulo de microscopía de barrido por sondeo local y de un sistema de nanoposicionamiento de alta precisión para un microscopio multianálisis
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2014
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Este trabajo presenta la técncia de interferometrá de baja coherencia orientada a la obtención de topografiá de superficies y tomografía de materiales. Se decribe la idea general, se presentan distintos esquemas experimentales y se muestran resultados obtenidos en distintos tipos de aplicaciones. Se pretende mostrar que esta técnica, todavía en etapa de laboratorio, puede ser en muchos casos una alternativa a las técncias convencionales o una solución a problemas por resolver, en el área de los ensayos no detructivos en materiales.
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UTN, Facultad Regional Delta, interferometrá, topografía de superficies, tomografía de materiales
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Diseño y construcción de un módulo de microscopía de barrido por sondeo local y de un sistema de nanoposicionamiento de alta precisión para un microscopio multianálisis - HERNÁN A. MARTÍNEZ REINA; IGNACIO G. CARDOZO; MIGUEL A. PUJOL; ENEAS N. MOREL; ALBERTO F. SCARPETTINI; J R TORGA – Tucumán - Congreso; II Congreso Argentino de Ingeniería - CADI 2014, VIII Congreso Argentino de Enseñanza de la Ingeniería - CAEDI 2014; 2014-Consejo Federal de Decanos de Ingeniería
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