FRD - Producción Académica de Posgrado
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Item Capacidad emprendedora en la población Centennial de la UTN-FRD para la creación de nuevas empresas de tecnología informática.(2023-07) Viera, Sergio; Carvajal, RaúlLos Sistemas de Información son esenciales para el desarrollo de los negocios. En la actualidad es imposible pensar que un negocio pueda desarrollar sus actividades sin el debido soporte de Sistemas de Información. La globalización y la competitividad hacen que sea imprescindible el uso de tecnologías de información para toda organización. El fenómeno denominado Transformación Digital se traduce en la integración de sistemas de manera vertical y horizontal, sin fronteras organizacionales ni gubernamentales. De esta manera se da un entorno económico mundial basado en los sistemas de información. La Ingeniería en Sistemas cumple un rol esencial en este ámbito, ya que se encarga del proceso que piensa, crea y pone en funcionamiento un sistema o aplicación, utilizando de manera efectiva y eficiente los recursos disponibles. Para diseñar, implementar y mantener un sistema de Información es necesario de profesionales con habilidades bien desarrolladas. Estas habilidades no están limitadas sólo a un concepto de aprendizaje convencional, sino que están asociadas a un concepto más amplio del desarrollo de la persona. Por este motivo, más allá de las competencias técnicas del profesional, es importante el desarrollo de competencias genéricas, como las competencias emprendedoras. La creación de empresas es un desafío en sí mismo, pero las empresas que desarrollan tecnologías de información tienen desafíos adicionales, ya que la complejidad de los negocios, la abstracción de los sistemas y el reclutamiento de personas conforman un entorno de difícil predicción. En este escenario se debe tener en cuenta la incorporación de una nueva generación al mundo empresarial, los Centennials. La generación Centennial o generación Z comprende a las personas nacidas entre 1994 y 2010. Se caracterizan, entre otras cosas, por la dependencia hacia la tecnología y la interacción social de manera virtual. Esta es la generación que se está egresando de las Universidades e incorporándose a trabajar en las empresas. Tienen la responsabilidad de continuar con el legado tecnológico, pero para ello va a ser necesario que desarrollen adecuadamente las competencias requeridas. La Universidad cumple un rol esencial en la formación de profesionales, pero el desarrollo de Competencias no es sólo tarea académica. En definición estricta, una Competencia es un enfoque y no una teoría pedagógica. Una nueva generación, un nuevo panorama económico mundial y la implementación de un nuevo paradigma en la educación. La integración de estos tres pilares plantea el siguiente interrogante. ¿De qué manera la generación Centennial está desarrollando la competencia para actuar con espíritu emprendedor dentro de la carrera de Ingeniería en Sistemas de Información en la Facultad Regional Delta?Item Sistema de expansión de rango dinámico para interferometría de baja coherencia(2022) Cusato, Leslie Judith; Morel, Eneas Nicolás; Torga, Jorge RománLa interferometría de baja coherencia (LCI) y la tomografía de coherencia óptica (OCT) permiten inspeccionar materiales de manera no destructiva, realizando perfilometrías y tomografías del mismo. Si bien la técnica de OCT es ampliamente utilizada en el campo de la biomedicina, para muchas aplicaciones industriales es necesario extender el rango de medición de los equipos sin elevar considerablemente los costos del mismo. En esta tesis se desarrolló y caracterizó un nuevo detector para LCI y OCT denominado detector espacial heterodino (SHD) el cual permite expandir entre seis y quince veces el rango de medición respecto a las configuraciones convencionales con espectrómetros. Se diseñó y armó un sistema experimental con el cual se pudo comprobar el funcionamiento del detector y la correspondencia con la propuesta teórica, obteniendo resultados experimentales para mediciones de diferencias de camino óptico cercanas a 5 cm. Para estudiar el desempeño del SHD, se desarrolló un programa que permite simular numéricamente las señales e imágenes a la salida. Este programa brinda la posibilidad de analizar los distintos componentes del detector y optimizar la configuración del mismo según la aplicación requerida. Además se caracterizaron experimentalmente diversas configuraciones de operación del SHD que permiten extender el rango de medición en distinta medida. Por otro lado, se estudiaron diversos métodos de procesamiento de las imágenes adquiridas para facilitar la extracción de la información de interés. En particular se utilizaron dos enfoques principales, uno basado en filtros adaptativos y el otro basado en la correlación cruzada normalizada. Cada uno presenta distintos niveles de complejidad y desempeño, por lo cual su elección dependerá de la aplicación en la que se requiera. Finalmente, se evaluó el desempeño del SHD en mediciones de perfilometría y tomografía de distintos materiales, abarcando distintos rangos de medición y comparándolo con los sistemas convencionales. La versatilidad del SHD aquí desarrollado permite extender el rango de medición según la aplicación y configurar su diseño para optimizar el costo, la resolución y/o el tamaño del equipo.Item Estudio de sistemas de error de foco utilizando haces con astigmatismo generalizado y su aplicación al estudio de materiales(2020-08-25) Aguilar, Andrés Daniel; Torga, Jorge RománEste trabajo se desarrolla a lo largo de una breve reseña del funcionamiento de los cabezales comerciales y la técnica en general, se inicia la descripción de las tareas realizadas con un resumen de la teoría de haces Gaussianos utilizada y descripciones de haces astigmáticos halladas en la bibliografía. En los capítulos 3 a 5 se describen los sistemas construidos que utilizan el esquema tradicional para luego describir una forma novedosa de medición de espesores. En el capítulo 6 se describe más en detalle el fenómeno de rotación de la distribución de intensidad del haz Gaussiano con astigmatismo generalizado que se utiliza en el Capítulo 7 para realizar medidas de espesor de medios transparentes de forma novedosa. Finalmente, en el Capítulo 8 se resume un proyecto de transferencia de un módulo de señal de error de foco para un grupo de investigación de esta Universidad. Se concluye este trabajo con un análisis de las conclusiones y perspectivas futuras.Item Caracterización del taladrado a partir del análisis de señales de emisión acústica emitidas durante la acción de brocas en diferentes condiciones de corte.(2021-12-24) Ferrari, Guido; Gómez, Martín PedroEl presente trabajo se basa en el monitoreo mediante emisión acústica de la herramienta de corte en un proceso de perforación de material geológico y la utilización de redes neuronales tipo Kohonen, y análisis de correlación para a identificación y clasificación de la información.Item Desarrollo de interferometria optica de baja coherencia para la aplicación a la caracterización de materiales(2012) Morel, Eneas Nicolás; Torga, Jorge RománEn ta tesis se presenta la técnica de interferometria de baja coherencia, como un para caracterizar superficies y espesores tanto en materiales opacos como semitransparentes. La técnica permite medir con precisión en el orden del micrón y con rango dinámico en el orden del centímetro. El trabajo se orientó a la caracterización de materiales por medio de topografia y tomografia óptica, para aplicaciones industriales, particularmente en la determinación de parámetros de forma, perfilometria de superficie y medición de espesores, entre otras. Se presenta un estudio detallado del proceso de detección y adquisición y los efectos sobre la señal de interferencia. Se muestran los resultados obtenidos con los sistemas experimentales utilizados, sobre muestras metálicas, películas de grasas, polímeros y films de vidrio. Se propone un nuevo esquema interferometrico capaz de realizar las mediciones de espesores en muestras opacas y semitransparentes sin la necesidad de conocer el índice de refracción. Por medio de este esquema también se pueden determinar las topografias de ambas caras de una muestra.