Facultad Regional San Francisco
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Item Jornadas de Ciencia y Tecnología 2022(AJEA- Actas de Jornadas y Eventos Académicos de UTN, 2022-12) Ferreyra, Diego M.; Mercol, Claudia del Valle; Sobrero, Lucía Belén; Gimenez, Aylen IleanaLas Jornadas de Ciencia y Tecnología 2022 organizadas por la Facultad Regional San Francisco de la Universidad Tecnológica Nacional buscan, a través de la presentación de investigaciones en marcha y de conferencias seleccionadas, estrechar lazos entre los distintos grupos de investigación de esta y otras Facultades que estén relacionados con diferentes carreras, entre otras, ingeniería Química, Industrial, en Sistemas de información, Electromecánica, Electrónica, otras ingenierías y la Licenciatura en Administración Rural. En este sentido, se propone la comunicación y el intercambio de experiencias entre áreas altamente especializadas, que permitan resolver problemas y generar nuevas alternativas tecnológicas a partir de enfoques interdisciplinarios. Además, las Jornadas tienen como objetivo propiciar el contacto entre los distintos grupos anteriormente mencionados y la industria, con la difusión de los adelantos científicos y tecnológicos producidos en el mundo y la discusión de las investigaciones desarrolladas en Argentina. En las Jornadas de Ciencia y Tecnología 2022, se desarrollaron conferencias plenarias de expertos que abarcaron diversos tópicos sobre una amplia gama de disciplinas de interés para la tecnología y los procesos industriales. Estas Jornadas, que se vienen desarrollando desde 2002, constituyen un espacio de abordaje de contenidos de ciencia y tecnología para estudiantes, docentes e investigadores de la Facultad en una visión conjunta e integrada con la industria. En la edición 2022, se llevaron a cabo de manera presencial y con algunas actividades en modalidad híbrida. En esta edición, los trabajos de investigación se presentaron en formato de trabajo completo con referato y su compilado resulta en un libro digital que cumple con las normativas de AJEA y que cuenta con DOI e ISBN.