Facultad Regional Delta

Permanent URI for this communityhttp://48.217.138.120/handle/20.500.12272/95

Browse

Author: search.filters.author.Tabla, Pablo

Search Results

Now showing 1 - 7 of 7
  • Thumbnail Image
    Item
    Topografía de superficies obtenida por interferometría de baja coherencia de alta resolución espacial
    (2016) Sallese, Marcelo; Torga, Jorge Román; Tabla, Pablo; Morel, Eneas Nicolás
    La tomografía óptica coherente (OCT por sus siglas en inglés) es una técnica óptica no destructiva, que utiliza una fuente de luz de gran ancho espectral que se enfoca sobre un punto de la muestra para determinar la distancia (rigurosamente la diferencia de camino óptico)entre este punto y una superficie de referencia. El punto puede ser superficial o en una interfase interior de la muestra (transparente o semitransparente), permitiendo realizar topografías y/o tomografías en distintos materiales. El interferómetro de Michelson es el esquema experimental tradicional para esta técnica, en el cual un haz de luz se divide en dos ramas, una de referencia y la otra de muestra. La superposición de la luz reflejada en la muestra y en la referencia genera una señal de interferencia que nos da información de la diferencia de camino óptico entre ramas. A partir de esta información es posible obtener la distancia mencionada. En este trabajo se presenta una nueva configuración experimental en donde la señal de referencia y la señal reflejada en la muestra viajan por una misma rama, mejorando la calidad de la señal de interferencia. Entre los aspectos más importante de esta mejora podemos mencionar que se reduce considerablemente el ruido y los errores producidos por el movimiento relativo referencia-muestra y por la dispersión del índice de refracción. De esta manera es posible obtener imágenes 3D de superficies con una resolución espacial en el orden del micrón. Se presentan resultados obtenidos en topografía de superficies metálicas, vidrios y tintas impresas sobre papel.
  • Thumbnail Image
    Item
    Microscopía óptica coherente por interferometría de baja coherencia de una sola rama aplicada a la caracterización de topografía de superficies
    (2016) Sallese, Marcelo; Torga, Jorge Román; Tabla, Pablo; Morel, Eneas Nicolás
    En este trabajo se presenta la técnica de microscopia óptica coherente basada en la interferometría de baja coherencia en el dominio de las frecuencias (FD-OCM por sus siglas en ingles) en un esquema experimental que propone un interferómetro en una sola rama que incluye un novedoso dispositivo para alojar la muestra y realizar un barrido. La medición se realiza enfocando un haz de luz láser sobre cada punto de la muestra y realizando un barrido en dos dimensiones, sobre el área deseada. El sistema permite medir distancias de varios milímetros con una resolución espacial en el orden del micrón y permite barridos en el orden del centímetro. Puede ser utilizado en una variedad de materiales tanto líquidos como sólidos. Se presentan resultados en la medición de topografía de superficies metálicas, vidrios y líquidos. Se muestran posibles aplicaciones en el análisis de ángulos de contacto, determinación de volúmenes y superficies y estudios de rugosidad. Se describe la idea general del método, se muestra un esquema experimenta simple como alternativa a las técnicas convencionales en el monitoreo y estudio de materiales. Se presentan imágenes obtenidas en topografías y tomografías de distintas muestras con distintos parámetros de interés. Se discute las posibilidades de implementar un sistema experimental sencillo que podría ser utilizado en ambientes fuera de un laboratorio de investigación.
  • Thumbnail Image
    Item
    Interferometría óptica de baja coherencia para caracterización dimensional de microestructuras
    (2016) Sallese, Marcelo; Torga, Jorge Román; Tabla, Pablo; Morel, Eneas Nicolás
    En este trabajo se presenta un sistema de laboratorio basado en la técnica de interferometría óptica de baja coherencia en el dominio de las frecuencias (FD-OCT) para la caracterización dimensional de microestructuras. El sistema propuesto es un interferómetro en fibra óptica con una fuente de luz blanca que termina en un cabezal que enfoca el haz sobre la muestra. La medición se realiza enfocando el haz láser sobre cada punto de la muestra y realizando un barrido en dos dimensiones, sobre el área deseada. Permite ser montado en distintas configuraciones y medir distancias de varios milímetros con una resolución espacial en el orden del micrón. El sistema portamuestra permite realizar barridos en el orden del centímetro. Se muestran posibles aplicaciones en el estudio de morfología de dispositivos para microfluídica y análisis de ángulos de contacto. Se describe la idea general del método, se muestra un esquema experimental simple como alternativa a las técnicas convencionales en el monitoreo y estudio de materiales. Se presentan imágenes obtenidas en topografías y tomografías de distintas muestras con distintos parámetros de interés. Se discute las posibilidades de implementar un sistema experimental sencillo que podría ser utilizado en ambientes fuera de un laboratorio de investigación
  • Thumbnail Image
    Item
    Desarrollo de un equipo basado en un interferómetro de baja coherencia para medición de topografía y tomografía de materiales
    (2017) Sallese, Marcelo; Tabla, Pablo; Cerrotta, Santiago; Morel, Eneas Nicolás; Torga, Jorge Román
    Este trabajo presenta los resultados de un proyecto del desarrollo de un equipo para realizar topografías y tomografías de materiales basado en una técnica óptica aplicado como ensayo no destructivo para la caracterización de superficies y determinación de volúmenes en el interior de materiales transparentes o semitransparentes. La técnica permite obtener imágenes 3D de alta resolución espacial, es apta para mediciones “in situ” y monitoreo en línea. Se muestran los avances en el diseño y construcción de un equipo a escala piloto basado en la técnica denominada tomografía óptica coherente en el dominio de la frecuencia. El equipo está constituido por un interferómetro en fibra óptica, un cabezal óptico, un sistema porta-muestra y un sistema de detección basado en un espectrómetro. El desarrollo de este equipo es un proyecto multidisciplinario y ha sido encarado tomando como prioridad el hecho de que varios de los elementos del sistema sean diseñados y construidos por investigadores de los laboratorios participantes. Se busca como objetivo principal que la tarea inicial de investigación se complemente con el posterior desarrollo tecnológico para obtener como resultado final un equipo que pueda ser utilizado por otros usuarios. Se describe la configuración desarrollada que incluye un novedoso dispositivo para alojar la muestra y realizar barridos controlados, el sistema de detección que utiliza sensores comerciales y también de diseño propio. Se muestran resultados obtenidos en la obtención de imágenes en distintos materiales.
  • Thumbnail Image
    Item
    Caracterización de recubrimientos obtenidos a partir de film líquidos por interferometría de baja coherencia.
    (2015) Sallese, Marcelo; Morel, Eneas Nicolás; Lunaa, Georgina; Tabla, Pablo; Torga, Jorge Román
    En este trabajo se presenta la interferometría de baja coherencia como una técnica sin contacto para caracterizar recubrimientos obtenidos a partir de un film líquido depositado sobre distintos materiales. Nos referimos específicamente a recubrimientos poliméricos, barnices, pinturas y lacas entre otros, con la única condición de que sean transparentes o semitransparentes en la región del espectro electromagnético en el rango entre el visible y el infrarrojo lejano (400nm a 2000nm). La técnica permite la medición de espesor y homogeneidad del recubrimiento, o sea que puede ser utilizado como técnica de monitoreo del producto final o para estudio de su evolución temporal en el proceso de formación del film, por ejemplo en procesos de secado, polimerización o cambios estructurales. Se presenta una configuración experimental modular que puede ser adaptado a aplicaciones industriales, monitoreo en línea o sistemas de control de calidad. Se presentan mediciones en una muestra en base acuosa depositada sobre metal. Se muestran resultados en la medición de espesores, topografía de superficie y tomografía del material
  • Thumbnail Image
    Item
    Reduction of measurement errors in OCT scanning
    (Spie Digital Library, 2018-03-05) Sallese, Marcelo; Morel, Eneas Nicolás; Tabla, Pablo; Torga, Jorge Román
    Optical coherence tomography (OCT) is a non-destructive optical technique, which uses a light source with a wide band width that focuses on a point in the sample to determine the distance (strictly, the optical path difference, OPD) between this point and a reference surface. The point can be superficial or at an interior interface of the sample (transparent or semitransparent), allowing topographies and / or tomographies in different materials. The Michelson interferometer is the traditional experimental scheme for this technique, in which a beam of light is divided into two arms, one the reference and the other the sample. The overlap of reflected light in the sample and in the reference generates an interference signal that gives us information about the OPD between arms. In this work, we work on the experimental configuration in which the reference signal and the reflected signal in the sample travel on the same arm, improving the quality of the interference signal. Among the most important aspects of this improvement we can mention that the noise and errors produced by the relative reference–sample movement and by the dispersion of the refractive index are considerably reduced. It is thus possible to obtain 3D images of surfaces with a spatial resolution in the order of microns. Results obtained on the topography of metallic surfaces, glass and inks printed on paper are presented.
  • Thumbnail Image
    Item
    Reconstrucción de imágenes topográficas para caracterización de superficies mediante microscopía óptica de baja coherencia
    (Congreso Internacional de Metalurgia y Materiales SAM-CONAMET 2018, 2018-10-30) Sallese, Marcelo; Tabla, Pablo; Morel, Eneas Nicolás; Torga, Jorge Román;
    Se presenta la técnica de microscopía óptica de baja coherencia en el dominio de las frecuencias (OCM-FD) para la obtención de imágenes 3D que permiten reconstruir la topografía de una superficie. La técnica puede ser aplicada sobre distintos materiales y texturas, en áreas de hasta 25x25mm, con una separación entre puntos de 4 μm y distancias en el eje normal al plano de barrido de hasta 2 mm con una resolución de 0.1 μm. Se muestran resultados sobre rugosidad en muestras metálicas, determinación de volumen extraído en muestras metálicas erosionadas y topografías de tintas conductoras impresas sobre cerámica y PET