En este trabajo se presenta la evaluación de la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis Transitorio (TRAM, Transient Analysis Method) para la detección de fallas paramétricas en los componentes pasivos de un filtro activo de segundo orden. Se pretende realizar evaluaciones similares a las previamente reportadas pero con modelos de simulación considerablemente más exactos y que responden a una tecnología específica. Con este propósito, se ha diseñado un filtro en una tecnología CMOS de 500nm y se lo ha adoptado como caso de estudio. Los modelos de simulación a nivel transistor han sido empleados en las evaluaciones. Nuestros resultados confirman los problemas de la estrategia para la detección de desviaciones paramétricas pequeñas.
