FRBA - Producción en Investigación, Desarrollo e Innovación

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Author: search.filters.author.Mazur, Tomás

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    Evaluación de la calidad de TRAM en la detección de fallas de fabricación en circuitos integrados analógicos fabricados en tecnología CMOS de 500nm
    (2015-04-01) Pazos, Sebastián; Aguirre, Fernando; Mazur, Tomás; Peretti, Gabriela; Romero, Eduardo
    En este trabajo se presenta la evaluación de la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis Transitorio (TRAM, Transient Analysis Method) para la detección de fallas paramétricas en los componentes pasivos de un filtro activo de segundo orden. Se pretende realizar evaluaciones similares a las previamente reportadas pero con modelos de simulación considerablemente más exactos y que responden a una tecnología específica. Con este propósito, se ha diseñado un filtro en una tecnología CMOS de 500nm y se lo ha adoptado como caso de estudio. Los modelos de simulación a nivel transistor han sido empleados en las evaluaciones. Nuestros resultados confirman los problemas de la estrategia para la detección de desviaciones paramétricas pequeñas.
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    Diseño de un amplificador operacional didáctico programable en un proceso CMOS de 500 nm
    (2016-10-01) Fontana, Andrés; Mazur, Tomás; Aguirre, Fernando; Pazos, Sebastián; Verrastro, Sebastián
    En este trabajo se describe el diseño de un Amplificador Operacional en un proceso CMOS comercial de 500 nm, con la particularidad de que la corriente suministrada en las etapas de ganancia puede ser seleccionada por el usuario. El mismo está comprendido por un Ampli- ficador Operacional de Miller, la etapa de salida, y una fuente de corriente que posibilita la programación. Con fines exclusivamente didácticos, determinados nodos del circuito que re- sultan de interés para su estudio, son vinculados a salidas especialmente diseñadas con el fin de evitar modificaciones al cargarlo con elementos externos, como podría darse en el caso de la conexión de instrumentos de medición. Gracias a ello, es posible evaluar el estado interno y obtener conclusiones que no serían factibles de adquirir en un dispositivo comercial. Para el diseño del dispositivo hemos hecho foco en optimizar su impedancia de salida, empleando una topología que aprovecha los beneficios de la realimentación negativa. Por último, son aplicadas protecciones contra tensiones de offset y corrientes de cortocircuito que aseguran la integridad del dispositivo.