Desarrollo, Producción e Innovación en la Investigación científica

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    Intercomparación en Mediciones Superficiales.
    (Revista Tecnología y Ciencia., 2019) Brambilla , Nancy; Brusa, Daniel; Caselles, Juan; Mas, Carlos; Schürrer, Clemar
    La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición ineludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metrológica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no so habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la Inter comparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos.
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    Algoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS.
    (Revista Tecnología y Ciencia., 2021) Bergués , Guillermo; Schürrer, Clemar; Caselles, Juan; Brambilla , Nancy; Brambilla , Nancy
    En este trabajo se presenta un método para procesar imágenes para optimizar la calibra ción de microscopios ópticos Lext Olympus con plantillas. El algoritmo pro-puesto ya fun ciona en las escalas de los autocolimadores Nikon, que son similares a las presentes en las plantillas de calibración de estos microscopios. El algoritmo fue adaptado para medir estas plantillas y así optimizar la calibración.
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    Intercomparación en Mediciones Superficiales.
    (Revista Tecnología y Ciencia., 2019) Brambilla, Nancy; Brusa, Daniel; Caselles, Juan; Mas, Carlos; Schürrer , Clemar
    La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición ineludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metrológica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no so habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la Inter comparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológico