UTN- FRC -Producción Académica de Investigación y Desarrollo - Artículos
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Item Determinación de microformas con máquinas de medir coordenadas. El caso de indentadores de dureza Rockwell C(Asociación Física Argentina, 2014) Schurrer, Clemar; Brusa, Daniel; Caselles, Juan; Brambilla, NancyLa medición de dureza en materiales es una de los ensayos más usados cuando se lo compara con la cantidad de ensayos de torsión, tensión, creep, etc. Entre las mediciones de dureza el método Rockwell es el de mayor demanda. En particular, el método Rockwell C que hace uso de un indentador de diamante, una precarga de 10 kg y una carga de medición de 150 kg, es el más difundido debido a su simplicidad y rapidez de ejecución. A pesar de la simplicidad del método, el mismo está basado en experimentos y ensayos empíricos. La definición de dureza Rockwell proviene de normas escritas, que incluyen una descripción detallada del método de medición, la geometría del indentador, la construcción de la máquina con la que se aplica el indentador, y la manera en la que la máquina se va a operar. Hay más de una norma escrita, por lo que hay más de una escala de dureza Rockwell lo cual indica que las mediciones de dureza Rockwell no tienen una unidad que sea independiente del método de medición. Estos hechos junto a la invalorable información obtenida sobre los materiales metálicos ha llevado a la necesidad de fijar normas muy precisas para cada uno de los items que componen la medición. Uno de esos items (el más crítico) es la geometría del indentador (1). El indentador de diamante es un cono de 120° que termina en un casquete esférico de 0,2mm de radio. La norma ISO 6508-3:2008 es la que especifica las tolerancias de dicha geometría. La actual implementación de dicha norma se basa en dos procedimientos diferentes. Uno implementado en el NIST haciendo uso de un rugosimetro de alta prestación (3) y un método óptico-interferométrico, desarrollado en el INRIM (2) y usado en muchos laboratorios nacionales. El presente trabajo describe la implementación de la ISO 6508- 3:2008 mediante el uso de una MMC. En la sección experimental se describe detalladamente el método implementado para la medición de la superficie mediante una MMC como así también el procesamiento para la obtención de los parámetros acorde a la norma ISO 10360-6:2001. En las siguientes secciónes se discuten los resultados y se comparan las incertidumbres obtenidas aun cuando no se dispone de intercomparaciones de resultados.Item Métodos de calibración: medición de parámetro característicos de un cono(Universidad Nacional de la Patagonia, 2011) Schurrer, Clemar; Brusa, Daniel; Caselles, Juan; Oviedo , Hugo; Brambilla, NancyEl presente trabajo describe los procedimientos implementados mediante una máquina de medir en coordenadas, redondímetro y rugosímetro, para evaluar los parámetros característicos de un cono.Item Intercomparación en Mediciones Superficiales.(Revista Tecnología y Ciencia., 2019) Brambilla , Nancy; Brusa, Daniel; Caselles, Juan; Mas, Carlos; Schürrer, ClemarLa trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición ineludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metrológica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no so habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la Inter comparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos.Item Algoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS.(Revista Tecnología y Ciencia., 2021) Bergués , Guillermo; Schürrer, Clemar; Caselles, Juan; Brambilla , Nancy; Brambilla , NancyEn este trabajo se presenta un método para procesar imágenes para optimizar la calibra ción de microscopios ópticos Lext Olympus con plantillas. El algoritmo pro-puesto ya fun ciona en las escalas de los autocolimadores Nikon, que son similares a las presentes en las plantillas de calibración de estos microscopios. El algoritmo fue adaptado para medir estas plantillas y así optimizar la calibración.